透射電子顯微鏡
高分辨率成像，獲取更高質(zhì)量的數(shù)據(jù)
Thermo ScientificTM TalosTM F200X S/TEM 融合了出色的高分辨 率 STEM 和 TEM 成像功能與行業(yè)領(lǐng)先的能譜儀 (EDS) 信號檢 測功能及基于成分分析的三維化學(xué)表征功能。Thermo Scientific VeloxTM S/TEM 控制軟件通過智能掃描引擎、基于多個(gè) STEM 探 測器的四通道集成以及用于分辨樣品磁疇、電疇分布的差分相位 襯度 (DPC) 成像，大幅改善了成像效果?？蔀?nbsp;EDS 數(shù)據(jù)處理和 量化分析提供極高的速度和精確度。
X-FEG 高亮度電子槍可提供更高的總電流(最高為標(biāo)準(zhǔn)肖特基 FEG 電子束電流的五倍)，同時(shí)可維持較小的會(huì)聚角。您可以獲 取 STEM、EDS 和高分辨率 TEM 應(yīng)用所需的卓越的圖像分辨率 和信噪比。X-FEG 不僅非常穩(wěn)定，而且壽命很長，可實(shí)現(xiàn)出色的 成像效率。
視野更大，速度更快
Talos D/TEM 上的快速 TEM 成像支持高分辨率和原位 動(dòng)態(tài)觀察。 Thermo Scientific Ceta 16MTM 相機(jī)具有大視場并能夠以 25 fps 的快速率捕捉圖像，同時(shí)壓電載物臺(tái)可確保高靈敏度、無漂移成 像和精確樣品導(dǎo)航，從而節(jié)約時(shí)間并允許您從每個(gè)樣品中獲取更 多數(shù)據(jù)。
加快納米級分析以更快獲取答案
Talos F200X S/TEM 包括獲得專利的 Thermo Scientific Super-XTM、 集成四個(gè)硅漂移探測器 (SDD) 的 EDS 系統(tǒng)，可提供出色的靈敏 度和高達(dá) 105 光譜 / 秒的掃描能力。與 X-TWIN 物鏡集成，可最 大限度提高收集效率，同時(shí)可實(shí)現(xiàn)給定電子束電流(甚至是低強(qiáng) 度 EDS 信號)的出色輸出計(jì)數(shù)率。
更輕松地開展研究
憑借友好的數(shù)字用戶界面和領(lǐng)先的人體工程學(xué)設(shè)計(jì)，Talos S/TEM 使成像和分析工作流程可為更多科學(xué)家所用?？焖俚膱D像 采集，加之易于使用的操作平臺(tái)，即使是經(jīng)驗(yàn)不足的操作者也能 夠快速收集結(jié)果。人機(jī)分離的遠(yuǎn)程操作設(shè)計(jì)顯著提高了易用性， 舒適性和電鏡的穩(wěn)定性。此外，為了確保維持工作效率，Talos S/TEM 配備了新型設(shè)備狀態(tài)記錄和診斷軟件。該軟件可收集主要 的儀器參數(shù)，有助于遠(yuǎn)程診斷和支持。
特點(diǎn)與用途
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主要優(yōu)勢 |
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更好的圖像數(shù)據(jù) :配備同步多重信號檢測的高通量 STEM 成 像可實(shí)現(xiàn)更好的對比度，從而可提供高質(zhì)量圖像 |
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更短的化學(xué)成分?jǐn)?shù)據(jù)生成時(shí)間 :快速、精確且量化的 EDS 分 析可揭示納米級細(xì)節(jié) |
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強(qiáng)大的應(yīng)用擴(kuò)展能力 :添加特定應(yīng)用的原位 樣品桿以開展動(dòng) 態(tài)實(shí)驗(yàn) |
功能
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領(lǐng)先的光學(xué)性能 :恒定功率 X-TWIN 物鏡
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最大程度提高易用性:快速輕松的操作切換，適用于多用戶環(huán)境
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超穩(wěn)定平臺(tái) :恒定功率物鏡、壓電載物臺(tái)、牢固的系統(tǒng)機(jī)殼和 遠(yuǎn)程操作可確保最高的穩(wěn)定性
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SmartCam 攝像頭 :數(shù)字搜索和查看攝像頭顯著提高了操作便 利性，讓使用者可以離開暗室進(jìn)行遠(yuǎn)程操作。
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完全集成的快速相機(jī) :Ceta 16M 像素 CMOS 相機(jī)可提供大視 場和高讀取速度(512 x 512 時(shí)為 25 fps)
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全面的遠(yuǎn)程操作 :自動(dòng)光闌系統(tǒng)與 Ceta 相機(jī)相結(jié)合，支持全 面的遠(yuǎn)程操作
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豐富的分析功能 :Talos S/TEM 使用 EDS 立體成像技術(shù)將樣品 成分分析功能從二維擴(kuò)展至三維。
產(chǎn)品參數(shù)
X-FEG 亮度 1.8 × 109 A/cm2 srad(200 kV 時(shí))
總電子束電流 > 50nA
束斑電流 1.5 nA @ 1 nm 束斑 (200 kV)
Super-X EDS 系統(tǒng) 采用對稱設(shè)計(jì)的 SDD 能譜探頭， 無窗設(shè)計(jì)，受機(jī)械快門保護(hù)
能量分辨率 Mn-Kα 和 10 kcps 時(shí) ≤ 136 eV (輸出)
快速 EDS 面分析 像素駐留時(shí)間短至 10 μs
STEM HAADF 分辨率 0.16 nm
EDX 立體角 0.9 srad
TEM 信息分辨率 0.12 nm
最大衍射角度 24 ?
雙傾樣品桿的最大傾斜角度 ±35° α 傾角 /±30° β 傾角
樣品臺(tái)最大傾斜角度 ±90 ?
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